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Los foros son sesiones de discusión e intercambio de ideas, por lo que el material no tiene necesariamente carácter oficial. Las presentaciones son estrictamente responsabilidad de los autores.

BLOQUE 1

  Título Ponente Organización
1.1 El Sistema Metrología, Normalización, Acreditación (MNA) y su importancia para la Competitividad del Sector Automotriz Dr. Salvador Echeverría V. CENAM
1.2 Experiencias en la Evaluación del Desempeño de MMCs con Artefactos de Esferas en Volkswagen de México   VW
1.2 Pruebas destructivas y NO destructivas   VW
1.3 GPS (Geometric Product Specification) Guillermo Navarrete H. CENAM

BLOQUE 2

  Título Ponente Organización
2.1 Resultados del análisis de encuestas M. en C. Carlos B. Valgañón A. CENAM

BLOQUE 3

  Título Ponente Organización
3.1 Planteamientos concretos en metrología primaria y normalización Varios CENAM
3.2 Factores críticos a considerar en la medición de tolerancia geométricas y dimensionales y el impacto en el MSA (Análisis de Sistemas de Medición). Fernando Motolinia V. CIDESI
3.4 MEMS in Automotive Global Markets PhD. Rubí Salazar Amador UPAEP

ANEXOS

  Título
INFORMACIÓN GENERAL
Laboratorios acreditados por la EMA
Mapa de la cadena productiva
Normas oficiales mexicanas NOM's