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Organizado por: |
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CENAM, Centro Nacional de Metrología |
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Coorganizado con: |
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AMO, Academia Mexicana de Óptica,
A. C. |
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DIVO, División de Óptica de la
Sociedad Mexicana de Física,
A. C. |
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SPIE,
The International Society for Optical
Engineering, Chapter Mexico |
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Con la ayuda de: |
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IICO, Instituto de Investigación en
Comunicación Óptica |
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CIO, Centro de Investigaciones en
Óptica, A. C. |
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INAOE, Instituto Nacional de
Astrofísica, Óptica y Electrónica |
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CICESE, Centro de Investigación
Científica y Educación Superior de Ensenada,
A. C. |
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CCADET, Centro de Ciencias Aplicadas
y Desarrollo Tecnológico |
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ITESM, Instituto Tecnológico y de
Estudios Superiores de Monterrey |
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CORM, Council for Optical Radiation
Measurements |
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Patrocinado por: |
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CIDEC, Centro de Investigación y
Desarrollo de Condumex |
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InTech México |
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National Instruments |
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CONCYTEQ, Consejo de Ciencia y
Tecnología del Estado de Querétaro |
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TELMEX, Teléfonos de México S.A. de
C.V. |
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SATELSA |
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Agilent Technologies |
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AGtel, Asesoría Global en
Telecomunicaciones S.A. de C.V. |
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ACTERNA,
Acterna de México, S. A. de C. V. |
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INSIMET, Integradores de Sistemas
Metrológicos, S. A. de C. V. |
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YOKOGAWA Supervy Sistemas, S. A. de
C. V. |
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VARIAN, S. de R. L. de C. V. |
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Philips, Construlita de Querétaro,
S. A. de C. V. |
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SIP
KLM, Sistemas Infrarrojos y de
Potencia KLM, S.A. |
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Exacto,
Tecnología de Punta en Iluminación |
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Instrumet, Laboratorio de
Calibración y Calificación, S.A. de C.V. |
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Perkin Elmer, Perkin Elmer de
México, S. A. |
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FIDE, Fideicomiso para el Ahorro de
la Energía Eléctrica |
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Konica Minolta, Metrocal, S. A. de
C. V. |
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Exacolor, Exacolor Laboratories, S.
A. de C. V. |
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ThorLabs, Thor Labs, Inc. |
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MultiON, MultiON Consulting, S. A.
de C. V. |
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Edmund Optics, Procesos Gráficos
para Publicidad, S. A. de C. V. |
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Brindis de
Bienvenida por cortesía de: |
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FREIXENET, Cavas Freixenet S.A. de
C.V. |
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